GRETAG MACBETH iCPlate II Advanced

iCPlate II Advanced измеряет все типы пластин (позитивные и негативные), как традиционные, так и пластины, использующиеся в CTP системах. Прибор поддерживает измерения широкого диапазона линиатур для регулярных растров (AM screening) и может определять геометрические размеры, что особенно актуально для оценки качества стохастических растров (FM screening). Для обеспечения максимально высокого контраста между печатными и пробельными элементами формы, прибор оснащен красным (R), зеленым (G) и синим (В) источниками света. В состав функции прибора входят следующие: Относительная площадь растровых элементов (Dot Area); Геометрический размер (Dot Size); Линиатура растра (Screen ruling); Угол направления растра (Screen angle); Показатель покрываемости (Visual coverage)

Кроме того, можно формировать компенсационную характеристику для растрового процессора (RIP). С помощью данного прибора можно производить измерения фотоформ и оттисков. С прибором поставляется программное обеспечения TabWizard II, которое позволяет импортировать измеренные данные и изображения растровых точек в приложения Windows. Прибор комплектуется калибровочным эталоном iCPlate Target II, который позволяет производить тестирование устройства и осуществлять калибровку. В соответствии с требованиями ISO 9000, прилагаемое к эталону программное обеспечение позволяет хранить данные о калибровке прибора и по необходимости распечатывать протокол.

системы iCPlateII Advanced,Basic и ПО Plate Quality решают одну из трудных задач офсетного пр-ва – быстрый и точный контроль качества печатных форм для систем CTP. Рез-том внедрения iCPlateII в ТП яв-ся уменьшение времени на рабочий цикл и сокращ. отходов